選頻式電磁輻射分析儀（DZER-100）

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202130404820.8 申請日 -
公開（公告）號 CN306720732S 公開（公告）日 2021-07-30
申請公布號 CN306720732S 申請公布日 2021-07-30
分類號 10-04（13） 分類 -
發(fā)明人 邱承躍;黑靜;白宇軍;葉笠 申請（專利權）人 成都點陣科技有限公司
代理機構 成都天嘉專利事務所（普通合伙） 代理人 王朋飛
地址 610041 四川省成都市武侯區(qū)武青南路40號E座10、11、12層
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設計產(chǎn)品的名稱：選頻式電磁輻射分析儀（DZER?100）。 2.本外觀設計產(chǎn)品的用途：用于對高頻電磁場進行安全分析和環(huán)境測量。 3.本外觀設計產(chǎn)品的設計要點：在于形狀。 4.最能表明設計要點的圖片或照片：立體圖。