一種溫控治具和溫度測(cè)試方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201810607675.0 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110595372B 公開（公告）日 2021-06-29
申請(qǐng)公布號(hào) CN110595372B 申請(qǐng)公布日 2021-06-29
分類號(hào) G01B11/16（2006.01）I;G05D23/20（2006.01）I 分類 測(cè)量；測(cè)試;
發(fā)明人 洪鐵迪;潘周權(quán);其他發(fā)明人請(qǐng)求不公開姓名 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 余姚舜宇智能光學(xué)技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京觀韜中茂律師事務(wù)所 代理人 梁朝玉
地址 315400浙江省寧波市余姚市蘭江街道世南西路1918號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及光學(xué)系統(tǒng)熱穩(wěn)定性技術(shù)領(lǐng)域，公開了一種用于溫度對(duì)光學(xué)系統(tǒng)形變影響測(cè)試的溫控治具和方法，溫控治具包括溫控調(diào)節(jié)器和加熱器，所述加熱器包括保護(hù)罩、加熱體以及隔熱底座，所述保護(hù)罩設(shè)于所述加熱體外，所述保護(hù)罩具有入口端口，所述加熱體具有中空部，所述入口端口與所述中空部相連通，所述加熱體與所述溫控調(diào)節(jié)器電連接；方法中利用上述溫控治具和光學(xué)影像測(cè)量?jī)x形成了較為完善的幫助定量獲取溫度變化對(duì)光學(xué)系統(tǒng)形變影響的較為符合實(shí)際的參數(shù)；本發(fā)明結(jié)構(gòu)簡(jiǎn)單，尺寸小巧，制造和應(yīng)用成本低，能夠幫助生產(chǎn)、研發(fā)人員在生產(chǎn)或研發(fā)設(shè)計(jì)過程測(cè)試溫度變化對(duì)光學(xué)系統(tǒng)形變影響，為設(shè)計(jì)初期提供設(shè)計(jì)選型數(shù)據(jù)支持。