測試Nand-flash壞塊的控制方法及控制系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110607418.9 申請日 -
公開（公告）號 CN113270136A 公開（公告）日 2021-08-17
申請公布號 CN113270136A 申請公布日 2021-08-17
分類號 G11C29/44（2006.01）I;G11C29/56（2006.01）I;G06F3/06（2006.01）I;G06F11/10（2006.01）N;G11C29/42（2006.01）N 分類 信息存儲;
發(fā)明人 唐暢;陳月玲;劉宇洋;謝啟友 申請（專利權(quán)）人 湖南博匠信息科技有限公司
代理機構(gòu) 長沙智勤知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 彭鳳琴
地址 410000湖南省長沙市岳麓區(qū)麓景路2號長沙生產(chǎn)力促進中心
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種測試Nand?flash壞塊的控制方法及系統(tǒng)，方法包括：將Nand?flash和測試板卡通信連接；將上位機和測試板卡通信連接；控制上位機對Nand?flash進行開卡操作；控制上位機對Nand?flash進行讀寫測試；本發(fā)明提出的測試Nand?flash壞塊的控制方法，能夠在Nand?flash未焊接至實際應(yīng)用產(chǎn)品時，即對Nand?flash的可靠性質(zhì)量指標(biāo)進行測試，即直接將Nand?flash通過安裝于測試板卡，再通過上位機來進行讀寫測試，并基于讀寫測試前的測前信息，和讀寫測試后的測后信息來進行分析，以得到測試結(jié)果信息。