測(cè)試Nand-flash壞塊的控制方法及控制系統(tǒng)
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110607418.9 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開(kāi)（公告）號(hào) | CN113270136B | 公開(kāi)（公告）日 | 2022-04-12 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN113270136B | 申請(qǐng)公布日 | 2022-04-12 |
| 分類號(hào) | G11C29/44;G11C29/56;G06F3/06;G06F11/10;G11C29/42 | 分類 | 信息存儲(chǔ); |
| 發(fā)明人 | 唐暢;陳月玲;劉宇洋;謝啟友 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 湖南博匠信息科技有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 長(zhǎng)沙智勤知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 彭鳳琴 |
| 地址 | 410000 湖南省長(zhǎng)沙市岳麓區(qū)麓景路2號(hào)長(zhǎng)沙生產(chǎn)力促進(jìn)中心 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開(kāi)了一種測(cè)試Nand?flash壞塊的控制方法及系統(tǒng)，方法包括：將Nand?flash和測(cè)試板卡通信連接；將上位機(jī)和測(cè)試板卡通信連接；控制上位機(jī)對(duì)Nand?flash進(jìn)行開(kāi)卡操作；控制上位機(jī)對(duì)Nand?flash進(jìn)行讀寫測(cè)試；本發(fā)明提出的測(cè)試Nand?flash壞塊的控制方法，能夠在Nand?flash未焊接至實(shí)際應(yīng)用產(chǎn)品時(shí)，即對(duì)Nand?flash的可靠性質(zhì)量指標(biāo)進(jìn)行測(cè)試，即直接將Nand?flash通過(guò)安裝于測(cè)試板卡，再通過(guò)上位機(jī)來(lái)進(jìn)行讀寫測(cè)試，并基于讀寫測(cè)試前的測(cè)前信息，和讀寫測(cè)試后的測(cè)后信息來(lái)進(jìn)行分析，以得到測(cè)試結(jié)果信息。 |
