晶體生長裝置和晶體生長方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110952925.6 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113652751B | 公開(公告)日 | 2022-04-19 |
申請公布號 | CN113652751B | 申請公布日 | 2022-04-19 |
分類號 | C30B29/36(2006.01)I;C30B23/00(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 彭程;張潔;廖弘基;陳華榮 | 申請(專利權(quán))人 | 湖南三安半導(dǎo)體有限責(zé)任公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京超凡宏宇專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) | 代理人 | 劉曾 |
地址 | 410000 湖南省長沙市長沙高新開發(fā)區(qū)長興路399號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及晶體生長技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種晶體生長裝置和晶體生長方法。晶體生長裝置包括坩堝蓋和坩堝體;坩堝體包括相互配合的側(cè)壁和底壁;沿坩堝體的高度,側(cè)壁包括多個(gè)壁體和多個(gè)連接段,壁體和連接段依次錯(cuò)開連接;坩堝蓋、底壁和壁體均由第一石墨材質(zhì)制成,連接段由第二石墨材質(zhì)制成;且第一石墨材質(zhì)的密度大于第二石墨材質(zhì)的密度。如此能夠提高坩堝內(nèi)部的N2含量,以增加原料及生長器件中吸附更多的N2,加大參與晶體生長反應(yīng)的N2含量,從而減小碳化硅晶片的電阻率。 |
