一種便于觀察的芯片檢查盤
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202023065657.6 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN214277923U | 公開（公告）日 | 2021-09-24 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN214277923U | 申請(qǐng)公布日 | 2021-09-24 |
| 分類號(hào) | G01N21/84（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I | 分類 | 測(cè)量；測(cè)試; |
| 發(fā)明人 | 芮聰;楊吉明;匡華強(qiáng);范宇;孫杰;張正貴 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 江蘇海德半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京輕創(chuàng)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陳曉華 |
| 地址 | 214400江蘇省無(wú)錫市江陰市臨港街道東徐路3號(hào) | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本實(shí)用新型公開了一種便于觀察的芯片檢查盤，包括檢查盤主體和蓋板，檢查盤主體的中部為內(nèi)凹，且檢查盤主體中部設(shè)有若干放置孔，放置孔呈矩陣陣列分布，檢查盤主體的前后兩端設(shè)有兩組開槽，蓋板穿過對(duì)應(yīng)組的開槽位于各放置孔的上方或者下方，該便于觀察的芯片檢查盤中，由蓋板插入到對(duì)應(yīng)組的開槽中，能夠?qū)π酒疵孢M(jìn)行快速限位，隨后便于觀察，進(jìn)而提高了檢測(cè)的效率，提高了檢查盤的實(shí)用性。 |
