無(wú)線記憶卡測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201420092077.1 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN203773959U 公開（公告）日 2014-08-13
申請(qǐng)公布號(hào) CN203773959U 申請(qǐng)公布日 2014-08-13
分類號(hào) G11C29/56(2006.01)I 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 楊名衡;洪慶翔 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 硬蛋科技（深圳）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京律誠(chéng)同業(yè)知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 徐金國(guó)
地址 518000 廣東省深圳市南山區(qū)粵海街道高新南九道55號(hào)微軟科通大廈11C
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實(shí)用新型提供一種無(wú)線記憶卡測(cè)試裝置，包含一主體、一供料載體、一電性測(cè)試接口以及一天線測(cè)試接口。利用設(shè)于供料載體上的電性測(cè)試接口及天線測(cè)試接口，使無(wú)線記憶卡測(cè)試裝置可同時(shí)針對(duì)大量的待測(cè)無(wú)線記憶卡進(jìn)行接觸式智能卡及非接觸式智能卡的測(cè)試，借此批量化測(cè)試待測(cè)無(wú)線記憶卡。