一種X射線探測器及檢測系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011298630.3 申請日 -
公開（公告）號 CN112415028A 公開（公告）日 2021-02-26
申請公布號 CN112415028A 申請公布日 2021-02-26
分類號 G01N23/18(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I;G01T1/20(2006.01)I;G01N23/04(2018.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李博;王洪波;高占軍 申請（專利權(quán)）人 同源微（北京）半導(dǎo)體技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京正理專利代理有限公司 代理人 付生輝
地址 100094北京市海淀區(qū)豐豪東路9號院中關(guān)村集成電路設(shè)計園2-4-902
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請的一個實施例公開了一種X射線探測器及檢測系統(tǒng)，該探測器包括：電路板、設(shè)置于電路板上的閃爍體、光電二極管陣列芯片和電荷電流轉(zhuǎn)換芯片，其中，所述閃爍體用于吸收X射線并將所述X射線轉(zhuǎn)換為可見光，其中，所述閃爍體包括第一閃爍體和第二閃爍體，所述第一閃爍體用于吸收第一能量射線，所述第二閃爍體用于吸收第二能量射線，其中，所述第二能量射線的能量比所述第一能量射線的能量高；所述光電二極管陣列芯片用于將所述可見光轉(zhuǎn)換為電流信號；所述電荷電流轉(zhuǎn)換芯片用于將所述電流信號轉(zhuǎn)換為電壓信號或數(shù)字信號，其中，所述電壓信號或數(shù)字信號用于表征所述X射線穿過被檢目標后的射線強度。??