基于SoC的高速集成電路測試平臺(tái)及其測試方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201911324087.7 申請日 -
公開（公告）號 CN111060807A 公開（公告）日 2020-04-24
申請公布號 CN111060807A 申請公布日 2020-04-24
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 張澤;錢衛(wèi)東 申請（專利權(quán)）人 蘇州索拉科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 南京縱橫知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 孫敏
地址 215000 江蘇省蘇州市十梓街327號303室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種基于SoC的高速集成電路測試平臺(tái)，包括主板，以及分別與主板電連接的互聯(lián)底板或/和擴(kuò)展結(jié)構(gòu)或/和外設(shè)結(jié)構(gòu)，所述主板包括主板異構(gòu)SoC處理器，以及與所述主板異構(gòu)SoC處理器連接的內(nèi)部支持電路、配置與外圍調(diào)用電路；主板異構(gòu)SoC處理器包括設(shè)置在同一芯片內(nèi)的主板ARM處理器和與所述主板ARM處理器連接的主板FPGA可編程邏輯器件。本發(fā)明公開了一種基于SoC的可靠、高精、高速集成電路測試平臺(tái)，能夠提升半導(dǎo)體集成電路測試效率、提高兼容性和通信性能。