變頻器老化測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121406449.X 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN215986281U 公開（公告）日 2022-03-08
申請公布號(hào) CN215986281U 申請公布日 2022-03-08
分類號(hào) G01R31/00（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李亮;劉靜;吳鈺楠;馬淑琴 申請（專利權(quán)）人 浙江海利普電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中科專利商標(biāo)代理有限責(zé)任公司 代理人 潘劍穎
地址 314300浙江省海鹽縣武原鎮(zhèn)新橋北路339號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本公開了提供一種變頻器老化測試系統(tǒng)，其特征在于包括：供電模組，被配置為根據(jù)被測變頻器所需的功率和/或電壓向被測變頻器供電；以及老化測試模組，連接在所述被測變頻器的輸出側(cè)和輸入側(cè)之間，被配置為用作被測變頻器的負(fù)載，并將測試過程中產(chǎn)生的電能返回給所述被測變頻器。由于作為負(fù)載的老化測試模組將處理后的電能重新輸入被測變頻器，實(shí)現(xiàn)了能量的自回流。另外，供電模組可包括供電變頻器，供電變頻器能夠輸出不同的輸出電壓，從而變頻器老化測試系統(tǒng)可以適應(yīng)不同電壓等級(jí)的被測變頻器。