一種二極管陣列檢測器的調(diào)試裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202022781227.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN213933577U | 公開(公告)日 | 2021-08-10 |
申請公布號 | CN213933577U | 申請公布日 | 2021-08-10 |
分類號 | G01N21/33(2006.01)I;G01N30/74(2006.01)I | 分類 | 測量;測試; |
發(fā)明人 | 封嬌;韓雪;楊三東;陳豐;唐濤;李彤 | 申請(專利權(quán))人 | 依利特(蘇州)分析儀器有限公司 |
代理機構(gòu) | 北京精金石知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 楊蘭蘭 |
地址 | 215000江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)金雞湖大道99號蘇州納米城西北區(qū)14棟501 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本實用新型涉及一種二極管陣列檢測器的調(diào)試裝置,包括安裝板、光源機構(gòu)、推桿調(diào)試機構(gòu)和弧面鏡機構(gòu),所述安裝板用于固定支撐調(diào)試裝置,所述安裝板上表面固定連接所述光源機構(gòu)、推桿調(diào)試機構(gòu)和弧面鏡機構(gòu),且所述推桿調(diào)試機構(gòu)位于安裝板中部,所述光源機構(gòu)和弧面鏡機構(gòu)分別位于推桿調(diào)試機構(gòu)兩側(cè),所述光源機構(gòu)與推桿調(diào)試機構(gòu)之間設有石英平面透鏡,該裝置通過調(diào)節(jié)比色皿支架位置,可在多色儀調(diào)試過程中生成不同光譜,并根據(jù)光譜可直接判定二極管陣列檢測器多色儀的光譜分辨率和雜散光情況,避免多次替換氘燈與汞燈進行反復調(diào)試,進而提高了調(diào)試效率、使檢測結(jié)果更精確。 |
