一種增強(qiáng)型目標(biāo)檢測方法和存儲(chǔ)設(shè)備
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202111362687.X | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN114155405A | 公開(公告)日 | 2022-03-08 |
申請公布號 | CN114155405A | 申請公布日 | 2022-03-08 |
分類號 | G06V10/774(2022.01)I;G06V10/764(2022.01)I;G06T7/194(2017.01)I | 分類 | 計(jì)算;推算;計(jì)數(shù); |
發(fā)明人 | 吳麗;張昊;翁溫民 | 申請(專利權(quán))人 | 瑞芯微電子股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 福州市景弘專利代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 魏小霞 |
地址 | 350003福建省福州市鼓樓區(qū)軟件大道89號18號樓 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及目標(biāo)檢測技術(shù)領(lǐng)域,特別涉及一種增強(qiáng)型目標(biāo)檢測方法和存儲(chǔ)設(shè)備。所述一種增強(qiáng)型目標(biāo)檢測方法,包括步驟:訓(xùn)練待用模型,所述待用模型包括:前景背景區(qū)分模型和特征提取分類模型;響應(yīng)添加新類別指令,輸入新品類圖像至所述前景背景區(qū)分模型得到前景圖像;輸入所述前景圖像至所述特征提取分類模型得到特征向量;對所述特征向量進(jìn)行聚類生成新類簇。以上方法中,當(dāng)有新類別添加時(shí),無需額外再重新訓(xùn)練前景背景區(qū)分模型和特征提取分類模型,將大大簡化訓(xùn)練流程,靈活性高。 |
