一種砷化鎵晶片及其制備方法
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN201811619886.2 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN111379027B | 公開(公告)日 | 2021-03-16 |
申請公布號 | CN111379027B | 申請公布日 | 2021-03-16 |
分類號 | C23C16/30(2006.01)I;C30B23/02(2006.01)I;C30B29/42(2006.01)I;C23C16/44(2006.01)I;C30B33/00(2006.01)I;H01S5/183(2006.01)I | 分類 | 晶體生長〔3〕; |
發(fā)明人 | 任殿勝;朱頌義;趙波;王建利;劉巖;崔楊洲;張春宇 | 申請(專利權(quán))人 | 北京通美晶體技術(shù)股份有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 北京北翔知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 鐘守期;劉文靜 |
地址 | 101113北京市通州區(qū)工業(yè)開發(fā)區(qū)東二街四號 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明涉及一種砷化鎵晶片,所述晶片表面的硫含量低于2×1015原子/cm3,優(yōu)選低于5×1014原子/cm3,所述晶片表面的硫含量通過本發(fā)明說明書實(shí)施例中第III部分定義的檢測方法進(jìn)行測定。本發(fā)明還涉及所述砷化鎵晶片的制備方法,包括以下步驟:1)使用酸或堿溶液對晶片表面進(jìn)行浸泡清洗;2)對晶片進(jìn)行化學(xué)機(jī)械拋光;3)拋光后,使用氧化劑對晶片表面進(jìn)行氧化;4)對晶片經(jīng)過堿溶液處理,隨后用去離子水清洗;5)對晶片經(jīng)過SC?1溶液處理,隨后用去離子水清洗;6)干燥所得晶片;7)再次使用氧化劑對晶片表面進(jìn)行處理;8)氮?dú)饣蛘婵瞻b。?? |
