射頻微波探針的S參數(shù)提取方法及系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及終端
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110628906.8 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN113076713A | 公開(公告)日 | 2021-07-06 |
申請公布號 | CN113076713A | 申請公布日 | 2021-07-06 |
分類號 | G06F30/367;G01R31/00;G01R35/02 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 丁旭;王立平 | 申請(專利權(quán))人 | 浙江鋮昌科技股份有限公司 |
代理機構(gòu) | 上海光華專利事務所(普通合伙) | 代理人 | 徐秋平 |
地址 | 310010 浙江省杭州市西湖區(qū)三墩鎮(zhèn)西園三路3號5幢601室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本發(fā)明提供一種射頻微波探針的S參數(shù)提取方法及系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及終端,包括以下步驟:獲取三維電磁場仿真得到的所述在片校準件的開路、短路、負載匹配的反射系數(shù)和直通的傳輸系數(shù)的仿真值;獲取雙端口S參數(shù)校準得到的所述在片校準件的開路、短路、負載匹配的反射系數(shù)和直通的傳輸系數(shù)的實測值;計算仿真值與實測值的誤差值;若誤差值大于預設閾值,獲取仿真參數(shù)重置后獲取的仿真值,直至誤差值不大于預設閾值;對仿真值進行擬合,以獲取在片校準件的電路模型參數(shù);基于電路模型參數(shù)和OSL算法獲取射頻微波探針的S參數(shù)。本發(fā)明的射頻微波探針的S參數(shù)提取方法及系統(tǒng)、存儲介質(zhì)及終端能夠?qū)崿F(xiàn)S參數(shù)的精準提取,有效提高了射頻微波的在片測試精度。 |
