一種低噪放芯片噪聲系數(shù)自動(dòng)化在片測試系統(tǒng)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201910715479.X 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN110470973B 公開（公告）日 2021-09-14
申請(qǐng)公布號(hào) CN110470973B 申請(qǐng)公布日 2021-09-14
分類號(hào) G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 丁旭;王立平 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 浙江鋮昌科技股份有限公司
代理機(jī)構(gòu) 杭州天昊專利代理事務(wù)所（特殊普通合伙） 代理人 董世博
地址 310000 浙江省杭州市西湖區(qū)三墩鎮(zhèn)西園三路3號(hào)5幢601室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種低噪放芯片噪聲系數(shù)自動(dòng)化在片測試系統(tǒng)，包括頻譜分析儀、噪聲源、射頻同軸線、轉(zhuǎn)接器、射頻探針、在片插入損耗補(bǔ)償系統(tǒng)、自動(dòng)化測試系統(tǒng)組成,在片插入損耗補(bǔ)償系統(tǒng)包括信號(hào)源、雙定向耦合器、接收機(jī)、射頻同軸線、轉(zhuǎn)接器、射頻探針、同軸校準(zhǔn)件和在片校準(zhǔn)件；本發(fā)明提供一種低噪放芯片噪聲系數(shù)自動(dòng)化在片測試系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)噪聲系數(shù)測試時(shí)精確補(bǔ)償放大器輸入端引入的損耗，提高了測試精度。