一種集成電路交替式驗(yàn)證方法及系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011498790.2 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN112507641A 公開（公告）日 2021-03-16
申請公布號(hào) CN112507641A 申請公布日 2021-03-16
分類號(hào) G06F30/30(2020.01)I;G06F119/02(2020.01)N 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 陳嵐;張金華;張義恒;馮新華 申請（專利權(quán)）人 中科芯云微電子科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 李曉光
地址 266101山東省青島市嶗山區(qū)松嶺路169號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了一種集成電路交替式驗(yàn)證方法及系統(tǒng)，該集成電路交替式驗(yàn)證系統(tǒng)，通過使用多種驗(yàn)證工具并靈活配置交替驗(yàn)證，可盡可能多的發(fā)現(xiàn)問題，并且通過結(jié)果預(yù)判模塊，還可以盡可能早的定位問題所在，能及時(shí)、精確、窮盡的驗(yàn)證集成電路設(shè)計(jì)中存在的問題，提高了驗(yàn)證的覆蓋率，為集成電路的設(shè)計(jì)提供可靠依據(jù)。??