一種PDK測試的優(yōu)化方法、裝置、存儲介質(zhì)和設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110275125.5 申請日 -
公開（公告）號 CN112882946A 公開（公告）日 2021-06-01
申請公布號 CN112882946A 申請公布日 2021-06-01
分類號 G06F11/36 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 陳嵐;郭瀟蔚;王志鵬 申請（專利權(quán)）人 中科芯云微電子科技有限公司
代理機構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 陳志海
地址 266101 山東省青島市嶗山區(qū)松嶺路169號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種PDK測試的優(yōu)化方法、裝置、存儲介質(zhì)和設備，從開發(fā)庫中查找預設單元列表中所指示的參數(shù)化單元的屬性信息。對參數(shù)化單元的屬性信息進行代碼編輯，得到參數(shù)化單元的版圖描述文件，其中，版圖描述文件用于指示參數(shù)化單元的版圖的格式要求?；诎鎴D描述文件生成虛擬庫，在獲取到PDK測試人員的觸發(fā)操作的情況下，從虛擬庫中調(diào)用測試所需的各個參數(shù)化單元的版圖，組建測試版圖，并利用測試版圖進行PDK測試。由于參數(shù)化單元的版圖的格式滿足版圖描述文件所指示的格式要求，因此，生成測試版圖所消耗的時間會有所限制?？梢?，利用本申請所述的方法，能夠有效提高PDK測試的效率。