芯片測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201620664595.5 申請日 -
公開（公告）號 CN205826813U 公開（公告）日 2016-12-21
申請公布號 CN205826813U 申請公布日 2016-12-21
分類號 G01R31/28(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 萬利劍 申請（專利權）人 成繹半導體技術（上海）有限公司
代理機構 - 代理人 -
地址 201000 上海市浦東新區(qū)郭守敬路498號19號樓205A室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型涉及一種芯片測試系統(tǒng)，該系統(tǒng)用于測試芯片的S參數，該系統(tǒng)包括射頻信號產生模塊、RF功率檢波模塊、直流電壓讀取模塊，所述射頻信號產生模塊用于產生芯片測試用的射頻信號，所述?RF功率檢波模塊用于將芯片產生的RF信號轉換為直流電壓，所述直流電壓讀取模塊用于讀取RF功率檢波模塊產生的直流電壓，并將直流電壓換算為S參數。本實用新型能夠實現低成本的芯片測試。