半導體晶元檢測及除塵設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202130268076.3 申請日 -
公開（公告）號 CN306838317S 公開（公告）日 2021-09-21
申請公布號 CN306838317S 申請公布日 2021-09-21
分類號 - 分類 -
發(fā)明人 張舞杰;鄧錦飛 申請（專利權）人 東莞市睿華智能科技有限公司
代理機構 廣州恒華智信知識產(chǎn)權代理事務所（普通合伙） 代理人 姜宗華
地址 523808 廣東省東莞市松山湖園區(qū)工業(yè)北四路1號11棟301室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 1.本外觀設計產(chǎn)品的名稱：半導體晶元檢測及除塵設備。2.本外觀設計產(chǎn)品的用途：用于檢測及清理半導體晶元的灰塵。3.本外觀設計產(chǎn)品的設計要點：在于形狀。4.最能表明設計要點的圖片或照片：立體圖。