基于光電檢測的芯片條帶計(jì)數(shù)裝置及方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810949030.5 申請日 -
公開（公告）號(hào) CN109034345B 公開（公告）日 2019-04-09
申請公布號(hào) CN109034345B 申請公布日 2019-04-09
分類號(hào) G06M1/272（2006.01）I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 單濤 申請（專利權(quán)）人 中國銀行股份有限公司濟(jì)南高新支行
代理機(jī)構(gòu) 濟(jì)南泉城專利商標(biāo)事務(wù)所 代理人 山東華翼微電子技術(shù)股份有限公司
地址 250101 山東省濟(jì)南市高新區(qū)新濼大街1768號(hào)信息通信技術(shù)研究院大廈B區(qū)302室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開一種基于光電檢測的芯片條帶計(jì)數(shù)裝置及方法，在被損壞芯片的固定角上沖一個(gè)損壞標(biāo)識(shí)孔，并在芯片條帶的中央每列芯片的前端開1個(gè)中心定位孔，在芯片條帶的兩側(cè)開多個(gè)側(cè)邊定位孔，利用光電檢測技術(shù)來檢測條帶的芯片是否為打孔芯片，并通過控制單元統(tǒng)計(jì)出檢測過的條帶包含芯片的數(shù)量及打孔芯片的數(shù)量。