雙層介質(zhì)空間中的聲場測量與變換方法
基本信息
| 申請?zhí)?/td> | CN201010110231.X | 申請日 | - |
| 公開（公告）號 | CN102141431A | 公開（公告）日 | 2011-08-03 |
| 申請公布號 | CN102141431A | 申請公布日 | 2011-08-03 |
| 分類號 | G01H17/00(2006.01)I | 分類 | 測量；測試; |
| 發(fā)明人 | 何元安;張若愚;聶佳;申和平 | 申請（專利權(quán)）人 | 鴻遠(yuǎn)亞太科技（北京）有限公司 |
| 代理機構(gòu) | 北京東正專利代理事務(wù)所（普通合伙） | 代理人 | 鴻遠(yuǎn)亞太科技（北京）有限公司;北京神州普惠科技有限公司 |
| 地址 | 100097 北京市海淀區(qū)紫竹院路116號嘉豪國際中心C610-611室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種雙層介質(zhì)空間中的聲場測量變換方法，該方法的步驟為：在聲源S1附近建立兩個同軸的柱面測量面，S1位于柱面內(nèi)，分別測量兩個測量面上的聲壓分布p1，p2；將介質(zhì)分界面反射的聲波看作是聲源S1關(guān)于界面的鏡像S2直接發(fā)出的聲波；將每個測量面上的聲壓分解為自S1和S2處直接傳播至各測量面的聲壓之和，即，p1(x1，y1，z1)＝p11(x1，y1，z1)+p21(x1，y1，z1)，p2(x2，y2，z2)＝p12(x2，y2，z2)+p22(x2，y2，z2)；上述兩式左右兩邊分別進(jìn)行二維傅立葉變換，并根據(jù)聲源S1和虛聲源S2在兩個柱面測量面上的聲壓關(guān)系，即， |
