一種光模塊芯片瑕疵的視覺檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110252683.X 申請日 -
公開（公告）號 CN112986269A 公開（公告）日 2021-06-18
申請公布號 CN112986269A 申請公布日 2021-06-18
分類號 G01N21/892 分類 測量；測試;
發(fā)明人 許濱;吳海濤;朱飛 申請（專利權(quán)）人 南通辰同智能科技有限公司
代理機構(gòu) 北京和信華成知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 席卷
地址 226500 江蘇省南通市如皋市如城街道惠政西路555號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種光模塊芯片瑕疵的視覺檢測裝置，其結(jié)構(gòu)包括檢測臺，檢測臺上設(shè)有光模塊芯片的傳輸線，傳輸線的正上方懸空設(shè)置有工位槽，工位槽延伸至傳輸線的傳輸末端，傳輸線帶動光模塊芯片進行傳送時，光模塊芯片始終位于工位槽的內(nèi)部，工位槽上設(shè)有光模塊芯片的外觀檢測工位、缺陷轉(zhuǎn)移工位以及成品轉(zhuǎn)移工位述外觀檢測工位、缺陷轉(zhuǎn)移工位以及成品轉(zhuǎn)移工位沿著傳輸線的傳送方向設(shè)置，本發(fā)明提高了光模塊芯片外觀檢測的效率和準確性。