納米線與基底間界面作用力測量方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210137167.7 申請日 -
公開（公告）號 CN114689658A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114689658A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G01N27/04（2006.01）I;G01L1/20（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 曹振興;梁鳳芝;黃濤;王均溢;楊溢;王一鳴;魏勇;李文建 申請（專利權(quán)）人 常熟理工學(xué)院
代理機構(gòu) 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 215500江蘇省蘇州市常熟市南三環(huán)路99號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種納米線與基底間界面作用力測量方法，包括將納米線與基底間接觸電阻測量電路置于液體中測量不同深度液體產(chǎn)生的正壓力下納米線與基底間的接觸電路，進(jìn)而確定納米線與基底間的界面作用力與接觸電阻的關(guān)系參數(shù)，之后通過測量納米線與基底間的接觸電阻即可得到相應(yīng)的界面作用力。本發(fā)明還公開了相應(yīng)的納米線與基底間界面作用力測量裝置。本發(fā)明基于力電關(guān)系，實現(xiàn)納米線與基底間納米力學(xué)性能的連續(xù)實時測量，為探究納米力學(xué)性能影響規(guī)律提供有效保障。