納米線與基底間界面作用力測(cè)量方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210137167.7 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114689658A 公開(公告)日 2022-07-01
申請(qǐng)公布號(hào) CN114689658A 申請(qǐng)公布日 2022-07-01
分類號(hào) G01N27/04(2006.01)I;G01L1/20(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 曹振興;梁鳳芝;黃濤;王均溢;楊溢;王一鳴;魏勇;李文建 申請(qǐng)(專利權(quán))人 常熟理工學(xué)院
代理機(jī)構(gòu) 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所(普通合伙) 代理人 -
地址 215500江蘇省蘇州市常熟市南三環(huán)路99號(hào)
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種納米線與基底間界面作用力測(cè)量方法,包括將納米線與基底間接觸電阻測(cè)量電路置于液體中測(cè)量不同深度液體產(chǎn)生的正壓力下納米線與基底間的接觸電路,進(jìn)而確定納米線與基底間的界面作用力與接觸電阻的關(guān)系參數(shù),之后通過測(cè)量納米線與基底間的接觸電阻即可得到相應(yīng)的界面作用力。本發(fā)明還公開了相應(yīng)的納米線與基底間界面作用力測(cè)量裝置。本發(fā)明基于力電關(guān)系,實(shí)現(xiàn)納米線與基底間納米力學(xué)性能的連續(xù)實(shí)時(shí)測(cè)量,為探究納米力學(xué)性能影響規(guī)律提供有效保障。