納米線與納米線間界面作用力測量方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210137176.6 申請日 -
公開（公告）號 CN114689659A 公開（公告）日 2022-07-01
申請公布號 CN114689659A 申請公布日 2022-07-01
分類號 G01N27/04（2006.01）I;G01L1/20（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 曹振興;梁鳳芝;黃濤;王一鳴;董慧龍;袁鳳;秦余楊;王均溢;楊溢 申請（專利權(quán)）人 常熟理工學(xué)院
代理機(jī)構(gòu) 南京蘇高專利商標(biāo)事務(wù)所（普通合伙） 代理人 -
地址 215500江蘇省蘇州市常熟市南三環(huán)路99號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種納米線與納米線間界面作用力測量方法，包括通過測量兩根頭部搭接的納米線在相背移動產(chǎn)生剝離趨勢時(shí)的變形量以及兩者間接觸電阻的變化，進(jìn)而得到納米線與納米線間的界面作用力與接觸電阻的關(guān)系，之后通過測量納米線與納米線間的接觸電阻即可實(shí)時(shí)得到納米線間的界面作用力。本發(fā)明還公開了納米線與納米線間界面作用力測量裝置。本發(fā)明通過使納米線形變確定納米線間界面作用力與接觸電阻的關(guān)系，進(jìn)而由接觸電阻的測量間接實(shí)現(xiàn)了納米線間界面作用力的實(shí)時(shí)測量。