一種數(shù)模轉(zhuǎn)換器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器的失配校準(zhǔn)方法及芯片

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202210013900.4 申請(qǐng)日 -
公開(公告)號(hào) CN114050828A 公開(公告)日 2022-02-15
申請(qǐng)公布號(hào) CN114050828A 申請(qǐng)公布日 2022-02-15
分類號(hào) H03M1/10(2006.01)I 分類 基本電子電路;
發(fā)明人 賀沖 申請(qǐng)(專利權(quán))人 武漢杰開科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 武漢智嘉聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 黃君軍
地址 430000湖北省武漢市東湖新技術(shù)開發(fā)區(qū)高新大道999號(hào)未來(lái)科技城C3棟6樓(自貿(mào)區(qū)武漢片區(qū))
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種數(shù)模轉(zhuǎn)換器、數(shù)模轉(zhuǎn)換器的失配校準(zhǔn)方法及芯片,該方法包括:根據(jù)不同排列的開關(guān)陣列,將電學(xué)元件中的部分組成不同的電路組合,對(duì)輸入的待采樣信號(hào)進(jìn)行多次采樣,輸出對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào);根據(jù)每次采樣對(duì)應(yīng)的電壓信號(hào),生成初始指針,并根據(jù)初始指針,控制開關(guān)陣列形成不同排列進(jìn)行下一時(shí)刻采樣。本發(fā)明通過(guò)設(shè)置開關(guān)陣列,生成不同的電路組合來(lái)進(jìn)行多次信號(hào)采樣,并根據(jù)采樣控制模塊對(duì)其每一次采樣生成的電壓信號(hào)進(jìn)行處理,生成初始指針,來(lái)選取下一次采樣需要的電學(xué)元件,保證采樣隨機(jī)性,且利用多次采樣消除誤差,對(duì)硬件電路消耗很少,簡(jiǎn)單高效地達(dá)到了失配校準(zhǔn)的目的。