圖像的缺陷檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201611143938.4 申請日 -
公開（公告）號 CN106815830B 公開（公告）日 2020-01-03
申請公布號 CN106815830B 申請公布日 2020-01-03
分類號 G06T7/00;G06T7/13;G06T7/136;G06K9/62 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 宮新一;徐德;張正濤;沈飛;蘇虎;楊化彬;袁智超 申請（專利權(quán)）人 中國科學(xué)院自動化研究所（洛陽）機器人與智能裝備創(chuàng)新研究院
代理機構(gòu) 北京瀚仁知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 宋寶庫;李飛
地址 100080 北京市海淀區(qū)中關(guān)村東路95號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種圖像的缺陷檢測方法，包括以下步驟：掃描待檢測圖像，獲取所述待檢測圖像中的待測圖案的邊緣輪廓；在所述邊緣輪廓中選取搜索點，并將所述搜索點投影到與所述待測圖案相同的模板圖像中得到瑕疵點，構(gòu)成瑕疵點聚類；計算所述瑕疵點聚類中每一瑕疵點對應(yīng)的瑕疵尺寸信息。本發(fā)明中，實現(xiàn)了在降低成本情況下，對圖像的缺陷精確檢測。