一種多頻段多極化相控陣天線測試近場設備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202220845190.7 申請日 -
公開（公告）號 CN216560792U 公開（公告）日 2022-05-17
申請公布號 CN216560792U 申請公布日 2022-05-17
分類號 G01R29/10（2006.01）I;G01R1/02（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭科 申請（專利權）人 成都智芯雷通微系統(tǒng)技術有限公司
代理機構 重慶坤源衡泰律師事務所 代理人 -
地址 610000四川省成都市天府新區(qū)華陽街道長江東二街56號1棟1層1室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型屬于相控陣天線技術領域，公開了一種多頻段多極化相控陣天線測試近場設備，包括：屏蔽暗箱，容納各個部件；位置調(diào)節(jié)機構，置于屏蔽暗箱內(nèi)底面上，調(diào)節(jié)檢測端的空間位置；旋轉運動機構，設置在位置調(diào)節(jié)機構的移動端上，調(diào)節(jié)檢測端的檢測角度；激光測距儀，設置在旋轉運動機構的旋轉端上；近場測試探頭，設置在旋轉運動機構的旋轉端上；和可微調(diào)天線承載平臺，置于位置調(diào)節(jié)機構旁的屏蔽暗箱內(nèi)底面上，安裝待測相控陣天線。本實用新型能夠根據(jù)檢測需求調(diào)節(jié)近場測試探頭和空間位置和檢測角度，同時利用激光測距儀隨時跟進檢測位置，從而實現(xiàn)多頻段多極化相控陣天線的近場測試。