一種用于相控陣天線測試近場設(shè)備

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202123020303.4 申請日 -
公開（公告）號 CN215415633U 公開（公告）日 2022-01-04
申請公布號 CN215415633U 申請公布日 2022-01-04
分類號 G01R29/10（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 彭科 申請（專利權(quán)）人 成都智芯雷通微系統(tǒng)技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 重慶坤源衡泰律師事務(wù)所 代理人 桑洋洋
地址 610000四川省成都市天府新區(qū)華陽街道長江東二街56號1棟1層1室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型公開了一種用于相控陣天線測試近場設(shè)備，包括屏蔽暗箱、上平臺、下平臺、探頭驅(qū)動組件、天線驅(qū)動組件、矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀、紅外探頭、近場測試探頭和工控機；在探頭驅(qū)動組件的移動端上設(shè)置有紅外探頭和近場測試探頭，紅外探頭設(shè)置在近場測試探頭旁；在上平臺的下方設(shè)置有下平臺，所述天線驅(qū)動組件設(shè)置在下平臺上，待測試天線安裝在天線驅(qū)動組件的移動端上。本實用新型能夠隨時觀測到測試過程中待測天線的位置情況，從而提高相控陣天線測試近場的精確度和可靠性。