一種芯片測試座

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121845042.7 申請日 -
公開（公告）號 CN215768674U 公開（公告）日 2022-02-08
申請公布號 CN215768674U 申請公布日 2022-02-08
分類號 G01R1/04（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 徐銀森;孫泰芳;徐智浩 申請（專利權(quán)）人 四川遂寧市利普芯微電子有限公司
代理機構(gòu) - 代理人 -
地址 629000四川省遂寧市經(jīng)濟技術(shù)開發(fā)區(qū)飛龍路66號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本實用新型提供一種芯片測試座，其特征在于，包括：芯片測試板（1）、金手指（2）、第一鉗部（3）、第二鉗部（4），所述第一鉗部（3）和第二鉗部（4）安裝在所述芯片測試板（1）上；所述第一鉗部（3）和所述第二鉗部（4）之間形成芯片安裝位（5），用于鉗住待測芯片（6）；所述金手指（2）位于鉗形開口兩側(cè)且與所述待測芯片（6）的引腳抵接；所述第一鉗部（3）和第二鉗部（4）之間形成運動副，使得第一鉗部（3）和第二鉗部（4）在任意開度下所述芯片安裝位（5）的中心位置不變。