一種采用激光與成像技術(shù)聯(lián)合監(jiān)測建筑物位移的方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201710259692.5 申請日 -
公開（公告）號 CN106871793B 公開（公告）日 2019-02-19
申請公布號 CN106871793B 申請公布日 2019-02-19
分類號 G01B11/02 分類 測量；測試;
發(fā)明人 吳慧明 申請（專利權(quán)）人 浙江開天工程技術(shù)有限公司
代理機構(gòu) 北京萬科園知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 吳慧明
地址 315100 浙江省寧波市鄞州區(qū)啟明路818號20幢133號
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種采用激光與成像技術(shù)聯(lián)合監(jiān)測建筑物位移的方法。在監(jiān)測建筑物外設(shè)置一基準點，將監(jiān)測設(shè)備固定于此基準點上；在建筑物四個角點分別固定一臺監(jiān)測設(shè)備，且各個角點設(shè)備直線光可見；調(diào)整各監(jiān)測設(shè)備之間的相對位置，通過時間控制器設(shè)置監(jiān)測設(shè)備啟動和關(guān)閉時間；監(jiān)測設(shè)備工作，激光發(fā)射器發(fā)射激光至下一監(jiān)測設(shè)備的標(biāo)定靶，設(shè)置在標(biāo)定靶后的CCD或CMOS圖像傳感器捕捉激光在標(biāo)定靶上的光斑成像，利用無線數(shù)據(jù)將圖像遠距離傳輸至電子終端；采用圖像分析軟件進行后期處理，獲取監(jiān)測建筑物的位移信息。本發(fā)明監(jiān)測設(shè)備組成簡單、可靠、使用成本低，且工作效率極高。