透明體表面缺陷提取及識別方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201810476168.8 申請日 -
公開（公告）號 CN108665458B 公開（公告）日 2022-02-01
申請公布號 CN108665458B 申請公布日 2022-02-01
分類號 G06T7/00（2017.01）I;G06T7/13（2017.01）I;G06T7/136（2017.01）I;G06T7/194（2017.01）I;G06T7/30（2017.01）I;G06T5/30（2006.01）I;G06T5/00（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 袁巨龍;趙文宏 申請（專利權(quán)）人 杭州智谷精工有限公司
代理機構(gòu) 北京中濟緯天專利代理有限公司 代理人 陳振華
地址 311121浙江省杭州市余杭區(qū)余杭街道文一西路1818-2號5幢206室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及透明體表面缺陷提取及識別方法。本發(fā)明的透明體表面缺陷提取及識別方法包括以下步驟：①采用中值濾波的方式對圖像進行平滑處理，消除噪聲；②缺陷提??；③缺陷判別。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明的方法采用特定的算法步驟，對采集到的圖像進行提取和識別，從而使對透明體的線檢測方法兼具適用范圍廣、靈活性強、運行穩(wěn)定、檢測效率高和精度高的特點。通過搭建實驗平臺對該發(fā)明方法進行了實驗，實驗結(jié)果表明：用本發(fā)明方法檢測處理一張5’的手機玻璃面板所需的時間為3s，誤檢率為1.58％，位置和外觀尺寸缺陷檢測精度可達10um，其他缺陷檢測精度為20um。