一種用于雙面研磨機的測量機構

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011389429.6 申請日 -
公開（公告）號 CN112536710B 公開（公告）日 2022-03-22
申請公布號 CN112536710B 申請公布日 2022-03-22
分類號 B24B37/08（2012.01）I;B24B37/34（2012.01）I;B24B37/013（2012.01）I;B24B41/02（2006.01）I;B24B55/00（2006.01）I 分類 磨削；拋光;
發(fā)明人 曹學銀;王樹魁;王振業(yè) 申請（專利權）人 新鄉(xiāng)市萬華數(shù)控設備有限公司
代理機構 成都其高專利代理事務所（特殊普通合伙） 代理人 任坤
地址 453700河南省新鄉(xiāng)市新鄉(xiāng)縣大召營產(chǎn)業(yè)聚集區(qū)富興路南段西側
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明涉及一種用于雙面研磨機的測量機構，包括基座、基準塊和傳感器，所述基座的中央處設有與基準塊相適配的活動套，所述基準塊穿過活動套并貫穿基座設置，所述基準塊的頂端連接有傳感器，所述活動套通過鎖緊機構連接基座；本發(fā)明提供的測量機構，通過鎖緊機構的定位對活動套的定位，使測量基準塊的高低可以自由調節(jié)，通過傳感器的位移對工件厚度實施自動檢測，邊加工，邊對工件厚度進行測量，增大了測量范圍，滿足更多客戶的需求。