一種用于狹窄空間的3D線掃激光檢測裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202121800044.4 申請日 -
公開（公告）號 CN215373877U 公開（公告）日 2021-12-31
申請公布號 CN215373877U 申請公布日 2021-12-31
分類號 G01B11/24（2006.01）I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李慶;趙雷;楊建偉 申請（專利權(quán)）人 深圳市聯(lián)君科技股份有限公司
代理機構(gòu) 北京維正專利代理有限公司 代理人 黃勇;任志龍
地址 518051廣東省深圳市南山區(qū)中山園路1001號TCL科學園區(qū)研發(fā)樓D1棟8層A單元801-2號房
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請涉及一種用于狹窄空間的3D線掃激光檢測裝置，其包括內(nèi)部帶有容納腔的殼體、線激光發(fā)射裝置、圖像采集裝置和鏡組，殼體的側(cè)面開設有連通于容納腔的檢測口，線激光發(fā)射裝置和圖像采集裝置安裝于容納腔的頂部，線激光發(fā)射端和圖像采集端均朝向容納腔底部設置，線激光發(fā)射端沿出射方向發(fā)射線激光，圖像采集端沿接收方向接收所述檢測口處傳入的回射光，鏡組位于容納腔的底部，帶有位于線激光和回射光傳播路徑上的反射面，反射面朝向檢測口傾斜以用于將沿出射方向射入的線激光沿偏折方向反射至檢測口，并用于將沿回射方向射入檢測口的回射光沿接收方向反射至圖像采集端。本申請具有能夠安裝于狹窄的空間中以對殼體側(cè)面的物體進行檢測的效果。