一種測(cè)試方法及裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN201711354386.6 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)（公告）號(hào) CN108335718A 公開(kāi)（公告）日 2018-07-27
申請(qǐng)公布號(hào) CN108335718A 申請(qǐng)公布日 2018-07-27
分類(lèi)號(hào) G11C29/08 分類(lèi) 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 檀華麗 申請(qǐng)（專(zhuān)利權(quán)）人 北京京存技術(shù)有限公司合肥分公司
代理機(jī)構(gòu) 北京潤(rùn)澤恒知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 北京京存技術(shù)有限公司;北京京存技術(shù)有限公司合肥分公司;北京兆易創(chuàng)新科技股份有限公司
地址 100176 北京市大興區(qū)經(jīng)濟(jì)技術(shù)開(kāi)發(fā)區(qū)景園北街2號(hào)52幢202室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例提供了一種測(cè)試方法及裝置，所述方法包括：將生成的測(cè)試指令設(shè)置在存儲(chǔ)區(qū)；當(dāng)所述存儲(chǔ)區(qū)存儲(chǔ)的測(cè)試指令滿(mǎn)足預(yù)設(shè)條件時(shí)，向可編程器件發(fā)送通知指令；其中，所述通知指令用于通知所述可編程器件從所述存儲(chǔ)區(qū)獲取測(cè)試指令后，發(fā)送所述測(cè)試指令至待測(cè)設(shè)備；根據(jù)從所述可編程器件中讀取的反饋參數(shù)，確定測(cè)試結(jié)果；其中，所述反饋參數(shù)由所述待測(cè)設(shè)備執(zhí)行所述測(cè)試指令后生成。本發(fā)明實(shí)施例可以應(yīng)用于處理器中，處理器負(fù)責(zé)生成測(cè)試指令，可編程器件負(fù)責(zé)獲取并發(fā)送測(cè)試指令，從而使得軟件處理和硬件處理并行、生成測(cè)試指令和執(zhí)行測(cè)試指令并行，可以消除因測(cè)試指令生成占用時(shí)間造成的延遲，提升測(cè)試的精確性。