一種數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)的校驗方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202210251022.X 申請日 -
公開（公告）號 CN114611155A 公開（公告）日 2022-06-10
申請公布號 CN114611155A 申請公布日 2022-06-10
分類號 G06F21/64（2013.01）I;G06F16/23（2019.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 付大偉;鄭偉 申請（專利權(quán)）人 云粒智慧科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京品源專利代理有限公司 代理人 -
地址 100037北京市西城區(qū)阜成門外大街甲28號西樓13層06室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明實(shí)施例公開了一種數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)的校驗方法、裝置、設(shè)備及介質(zhì)。其中，該方法包括：在數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)上線運(yùn)行時，確定數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)的節(jié)點(diǎn)更新時間和治理數(shù)據(jù)表的數(shù)據(jù)表更新時間；若所述節(jié)點(diǎn)更新時間和所述數(shù)據(jù)表更新時間中存在至少一個大于數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)的預(yù)存校驗時間，則基于數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)的配置內(nèi)容生成內(nèi)容摘要，并記錄內(nèi)容摘要生成時間；若所生成的內(nèi)容摘要與預(yù)存內(nèi)容摘要的信息一致，則確定所述數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)校驗通過。本技術(shù)方案，能夠提升數(shù)據(jù)治理節(jié)點(diǎn)的校驗速度，節(jié)省系統(tǒng)算力。