一種閃存顆粒篩選方法、終端及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202111302152.3 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN114220470A | 公開(公告)日 | 2022-03-22 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN114220470A | 申請(qǐng)公布日 | 2022-03-22 |
分類號(hào) | G11C16/16(2006.01)I;G11C16/10(2006.01)I;G11C16/04(2006.01)I;G06F3/06(2006.01)I | 分類 | 信息存儲(chǔ); |
發(fā)明人 | 賁偉建;劉征宇;楊超 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 浙江華憶芯科技有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) | 代理人 | 何倚雯 |
地址 | 310051浙江省杭州市濱江區(qū)浦沿街道南環(huán)路2930號(hào)2號(hào)樓512室 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┮环N閃存顆粒篩選方法、終端及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),閃存顆粒篩選方法包括:擦除目標(biāo)閃存塊中閃存頁(yè)的數(shù)據(jù),并寫入測(cè)試數(shù)據(jù)至閃存頁(yè),確定對(duì)應(yīng)的擦除時(shí)間和寫入時(shí)間;讀取閃存頁(yè)中存儲(chǔ)的測(cè)試數(shù)據(jù),確定閃存頁(yè)的比特錯(cuò)誤率;基于比特錯(cuò)誤率確定閃存頁(yè)的第一判定結(jié)果;基于擦除時(shí)間和寫入時(shí)間,確定閃存頁(yè)的第二判定結(jié)果;根據(jù)目標(biāo)閃存塊中包含閃存頁(yè)的第一判定結(jié)果和第二判定結(jié)果,對(duì)目標(biāo)閃存塊進(jìn)行區(qū)分。本申請(qǐng)通過多重評(píng)判條件對(duì)閃存頁(yè)進(jìn)行評(píng)價(jià),減少了目標(biāo)閃存塊因?yàn)轭w粒的擾動(dòng)、邊緣效應(yīng)等特性而造成的閃存頁(yè)誤判的問題,進(jìn)而提高目標(biāo)閃存塊的篩選準(zhǔn)確性,使得目標(biāo)閃存塊的篩選結(jié)果更加可靠。 |
