一種固態(tài)硬盤壽命的預(yù)測(cè)方法、裝置和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202110420734.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN113362879A 公開（公告）日 2021-09-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN113362879A 申請(qǐng)公布日 2021-09-07
分類號(hào) G11C16/34 分類 信息存儲(chǔ);
發(fā)明人 成梁;劉征宇 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 浙江華憶芯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 黎堅(jiān)怡
地址 310051 浙江省杭州市濱江區(qū)浦沿街道南環(huán)路2930號(hào)2號(hào)樓512室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請(qǐng)公開了一種固態(tài)硬盤壽命的預(yù)測(cè)方法、裝置和可讀存儲(chǔ)介質(zhì)，該方法包括：獲取固態(tài)硬盤中每個(gè)閃存塊的健康信息以及當(dāng)前可用閃存塊的數(shù)量，其中，可用閃存塊為用于存儲(chǔ)待寫入數(shù)據(jù)的閃存塊；利用每個(gè)閃存塊的健康信息計(jì)算出相應(yīng)的閃存健康值，并利用當(dāng)前可用閃存塊的數(shù)量計(jì)算出數(shù)量健康值；利用數(shù)量健康值與所有閃存健康值對(duì)固態(tài)硬盤的壽命進(jìn)行預(yù)測(cè)，得到固態(tài)硬盤的剩余壽命。通過(guò)上述方式，本申請(qǐng)能夠準(zhǔn)確對(duì)固態(tài)硬盤的剩余壽命進(jìn)行估算。