以ICP-MS法測定高純砷中雜質(zhì)元素的制樣方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201010593568.0 申請日 -
公開（公告）號 CN102072833A 公開（公告）日 2011-05-25
申請公布號 CN102072833A 申請公布日 2011-05-25
分類號 G01N1/28(2006.01)I;G01N27/62(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 李顯坪;王繼榮;陳琦;楊華琴;何衛(wèi)衛(wèi) 申請（專利權）人 洛寧中天利新材料有限公司
代理機構 揚州市錦江專利事務所 代理人 揚州高能新材料有限公司;內(nèi)蒙古中天利新材料有限公司;揚州中天利新材料股份有限公司
地址 225123 江蘇省揚州市維揚區(qū)甘泉雙塘工業(yè)園花莊路
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 以ICP-MS法測定高純砷中雜質(zhì)元素的制樣方法，涉及物質(zhì)分析技術領域，將高純砷放入特制的容器，在一定溫度下通氧形成三氧化二砷升華除去砷，而蒸汽壓低的雜質(zhì)元素殘留在容器內(nèi)，殘留溶液經(jīng)電子級硝酸消解，再用稀硝酸定容。本發(fā)明可完全消除基體元素砷的干擾。以ICP-MS法制樣的檢測數(shù)據(jù)與GD-MS檢測數(shù)據(jù)比較，具有精密度好、準確度高、實用可行的特點。