一種高純?nèi)趸橹蠸e的檢測(cè)方法
基本信息
申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN200910032929.1 | 申請(qǐng)日 | - |
公開(公告)號(hào) | CN101587072B | 公開(公告)日 | 2010-12-29 |
申請(qǐng)公布號(hào) | CN101587072B | 申請(qǐng)公布日 | 2010-12-29 |
分類號(hào) | G01N21/64(2006.01)I | 分類 | 測(cè)量;測(cè)試; |
發(fā)明人 | 李顯平;王繼榮 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人 | 洛寧中天利新材料有限公司 |
代理機(jī)構(gòu) | 揚(yáng)州市錦江專利事務(wù)所 | 代理人 | 江平 |
地址 | 225123 江蘇省揚(yáng)州市維揚(yáng)甘泉雙塘工業(yè)園 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 一種高純?nèi)趸橹蠸e的檢測(cè)方法,涉及物質(zhì)分析技術(shù)領(lǐng)域,將高純?nèi)趸槿芙庥诟呒兯校舭l(fā)除去水份后降溫析出三氧化二砷,留取濾液,取濾液配制成體積濃度為20%的鹽酸溶液,以氫氧化鉀和硼氫化鉀與所述鹽酸溶液反應(yīng),取含有Se+4的溶液,經(jīng)氫化-火焰原子熒光光度儀檢測(cè)濾液中Se的含量,再根據(jù)濾液中Se的含量計(jì)算Se在高純?nèi)趸橹械暮?。本發(fā)明可消除As的干擾,設(shè)備投資小(20萬(wàn)以下),通過(guò)檢測(cè)數(shù)據(jù)多次比較與GD-MS檢測(cè)數(shù)據(jù)比較,其準(zhǔn)確度較好。 |
