芯片測試用例管理方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110441192.X 申請日 -
公開（公告）號 CN113094277A 公開（公告）日 2021-07-09
申請公布號 CN113094277A 申請公布日 2021-07-09
分類號 G06F11/36（2006.01）I 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 羅灝文 申請（專利權）人 廣州粒子微電子有限公司
代理機構 北京中索知識產權代理有限公司 代理人 胡大成
地址 510663廣東省廣州市黃埔區(qū)科學大道162號B2區(qū)902
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┮环N芯片測試用例管理方法及裝置。其中，所述方法包括：獲取由若干測試用例構成的芯片測試計劃集；獲取由若干已測試完成的測試用例構成的芯片測試記錄集；通過Python數(shù)據(jù)管理端，比較所述芯片測試計劃集與所述芯片測試記錄集，得到所述芯片測試計劃集中是否存在未測試的測試用例的比較結果；當芯片測試計劃集中存在未測試的測試用例時，提取未測試的測試用例；通過PYQT5輸出管理端，輸出所述未測試的測試用例。這樣，能夠在大量測試用例的情況下使得工作人員或檢測系統(tǒng)能夠及時察覺到芯片測試用例的遺漏，從而保證了芯片驗證的完整性并提升芯片驗證結果的準確性。