一種芯片系統(tǒng)時(shí)鐘安全保障電路及芯片
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202110021662.7 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112685242A | 公開（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112685242A | 申請(qǐng)公布日 | 2021-04-20 |
| 分類號(hào) | G06F11/277(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 張運(yùn)輸;舒杰敏 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 合肥六角形半導(dǎo)體有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京華仁聯(lián)合知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 | 代理人 | 陳建 |
| 地址 | 230000安徽省合肥市高新區(qū)望江西路800號(hào)創(chuàng)新產(chǎn)業(yè)園一期A3棟816室 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本發(fā)明公開了一種芯片系統(tǒng)時(shí)鐘安全保障電路，所述電路包括時(shí)鐘選擇電路、時(shí)鐘失效檢測(cè)電路、系統(tǒng)時(shí)鐘選擇寄存器、失效時(shí)間閾值寄存器和檢測(cè)時(shí)間閾值寄存器；所述時(shí)鐘選擇電路輸入端和時(shí)鐘失效檢測(cè)電路輸入端均接入外部低速晶振輸入時(shí)鐘、外部高速晶振輸入時(shí)鐘，所述時(shí)鐘選擇電路輸入端與時(shí)鐘失效檢測(cè)電路輸出端信號(hào)連接，所述系統(tǒng)時(shí)鐘選擇寄存器輸出端、失效時(shí)間閾值寄存器和檢測(cè)時(shí)間閾值寄存器均與時(shí)鐘失效檢測(cè)電路輸入端信號(hào)連接。本發(fā)明通過復(fù)用系統(tǒng)時(shí)鐘選擇寄存器，用一套系統(tǒng)時(shí)鐘失效檢測(cè)電路，有效實(shí)現(xiàn)對(duì)多個(gè)時(shí)鐘源失效的檢測(cè)，大大節(jié)約了芯片面積和設(shè)計(jì)復(fù)雜度。?? |
