芯片測試方法及裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202010026866.5 申請日 -
公開（公告）號 CN111190093A 公開（公告）日 2020-05-22
申請公布號 CN111190093A 申請公布日 2020-05-22
分類號 G01R31/28 分類 測量；測試;
發(fā)明人 胡信偉 申請（專利權）人 上海知白智能科技有限公司
代理機構 濟南信達專利事務所有限公司 代理人 程佩玉
地址 200333 上海市普陀區(qū)真北路958號20幢1349室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供了芯片測試方法及芯片測試裝置，方法包括：根據(jù)芯片的測試序列生成數(shù)據(jù)表格；所述數(shù)據(jù)表格中包括：至少一個測試項目對應的至少一個測試參數(shù)及其取值；設置功能程序；所述功能程序，包括：執(zhí)行測試項目的功能代碼及讀取所述數(shù)據(jù)表格的功能代碼；還包括：由所述功能程序利用讀取所述數(shù)據(jù)表格的功能代碼從所述數(shù)據(jù)表格中讀取所述至少一個測試項目對應的測試參數(shù)及其取值；根據(jù)讀取的所述至少一個測試項目對應的測試參數(shù)及其取值，由所述功能程序的功能代碼執(zhí)行測試項目。本發(fā)明能提高芯片測試的效率。