多核密碼芯片、多核密碼芯片的測試方法和測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011342074.5 申請日 -
公開（公告）號 CN112131067B 公開（公告）日 2021-03-30
申請公布號 CN112131067B 申請公布日 2021-03-30
分類號 G06F11/22(2006.01)I 分類 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù);
發(fā)明人 鄧先坤 申請（專利權(quán)）人 賽芯半導(dǎo)體技術(shù)（北京）有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京康信知識產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 代理人 霍文娟
地址 100080北京市海淀區(qū)科學(xué)院南路2號C座16層S1601-S1605
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N多核密碼芯片、多核密碼芯片的測試方法和測試裝置，該多核密碼芯片包括：多個(gè)密碼核，用于進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算，各密碼核相互獨(dú)立運(yùn)行；第一存儲器，用于存儲各密碼核的測試結(jié)果；多核控制模塊，與第一存儲器和各密碼核通信連接，用于根據(jù)測試結(jié)果控制各密碼核的開關(guān)。該多核密碼芯片中，由于各密碼核相互獨(dú)立運(yùn)行，多核控制模塊根據(jù)測試結(jié)果將異常的密碼核關(guān)閉后，其他密碼核正常工作，并不影響多核密碼芯片的正常運(yùn)行，相比于現(xiàn)有技術(shù)一個(gè)密碼核的測試結(jié)果為異常即確定芯片異常，大大提高了多核密碼芯片的測試良率，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中多核密碼芯片的測試良率低的問題。??