多核密碼芯片、多核密碼芯片的測試方法和測試裝置

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011342074.5 申請日 -
公開（公告）號 CN112131067A 公開（公告）日 2020-12-25
申請公布號 CN112131067A 申請公布日 2020-12-25
分類號 G06F11/22(2006.01)I 分類 計算；推算；計數;
發(fā)明人 鄧先坤 申請（專利權）人 賽芯半導體技術（北京）有限公司
代理機構 北京康信知識產權代理有限責任公司 代理人 九州華興集成電路設計（北京）有限公司
地址 100080北京市海淀區(qū)科學院南路2號C座16層S1601-S1605
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請?zhí)峁┝艘环N多核密碼芯片、多核密碼芯片的測試方法和測試裝置，該多核密碼芯片包括：多個密碼核，用于進行數據運算，各密碼核相互獨立運行；第一存儲器，用于存儲各密碼核的測試結果；多核控制模塊，與第一存儲器和各密碼核通信連接，用于根據測試結果控制各密碼核的開關。該多核密碼芯片中，由于各密碼核相互獨立運行，多核控制模塊根據測試結果將異常的密碼核關閉后，其他密碼核正常工作，并不影響多核密碼芯片的正常運行，相比于現有技術一個密碼核的測試結果為異常即確定芯片異常，大大提高了多核密碼芯片的測試良率，進而解決了現有技術中多核密碼芯片的測試良率低的問題。??