多核密碼芯片、多核密碼芯片的測試方法和測試裝置
基本信息
| 申請(qǐng)?zhí)?/td> | CN202011342074.5 | 申請(qǐng)日 | - |
| 公開（公告）號(hào) | CN112131067A | 公開（公告）日 | 2020-12-25 |
| 申請(qǐng)公布號(hào) | CN112131067A | 申請(qǐng)公布日 | 2020-12-25 |
| 分類號(hào) | G06F11/22(2006.01)I | 分類 | 計(jì)算；推算；計(jì)數(shù); |
| 發(fā)明人 | 鄧先坤 | 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 | 賽芯半導(dǎo)體技術(shù)（北京）有限公司 |
| 代理機(jī)構(gòu) | 北京康信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 | 代理人 | 九州華興集成電路設(shè)計(jì)（北京）有限公司 |
| 地址 | 100080北京市海淀區(qū)科學(xué)院南路2號(hào)C座16層S1601-S1605 | ||
| 法律狀態(tài) | - | ||
摘要
| 摘要 | 本申請(qǐng)?zhí)峁┝艘环N多核密碼芯片、多核密碼芯片的測試方法和測試裝置，該多核密碼芯片包括：多個(gè)密碼核，用于進(jìn)行數(shù)據(jù)運(yùn)算，各密碼核相互獨(dú)立運(yùn)行；第一存儲(chǔ)器，用于存儲(chǔ)各密碼核的測試結(jié)果；多核控制模塊，與第一存儲(chǔ)器和各密碼核通信連接，用于根據(jù)測試結(jié)果控制各密碼核的開關(guān)。該多核密碼芯片中，由于各密碼核相互獨(dú)立運(yùn)行，多核控制模塊根據(jù)測試結(jié)果將異常的密碼核關(guān)閉后，其他密碼核正常工作，并不影響多核密碼芯片的正常運(yùn)行，相比于現(xiàn)有技術(shù)一個(gè)密碼核的測試結(jié)果為異常即確定芯片異常，大大提高了多核密碼芯片的測試良率，進(jìn)而解決了現(xiàn)有技術(shù)中多核密碼芯片的測試良率低的問題。?? |
