圖像解析力測(cè)試裝置

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202020257208.2 申請(qǐng)日 -
公開(kāi)(公告)號(hào) CN211740567U 公開(kāi)(公告)日 2020-10-23
申請(qǐng)公布號(hào) CN211740567U 申請(qǐng)公布日 2020-10-23
分類號(hào) G01M11/02(2006.01)I 分類 測(cè)量;測(cè)試;
發(fā)明人 崔中秋;劉路路;沈志杰;姜迪;王騰 申請(qǐng)(專利權(quán))人 多感科技(上海)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 上海盈盛知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 代理人 多感科技(上海)有限公司
地址 201899上海市嘉定區(qū)菊?qǐng)@新區(qū)環(huán)城路2222號(hào)6幢101室J1092
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 該實(shí)用新型提出了一種圖像解析力測(cè)試裝置,包括:用于產(chǎn)生照明光的照明裝置;檢測(cè)裝置,所述檢測(cè)裝置設(shè)在所述照明裝置的一側(cè)且與所述照明裝置之間間隔開(kāi),所述檢測(cè)裝置設(shè)有測(cè)試圖案卡,所述照明裝置位于所述檢測(cè)裝置設(shè)有所述測(cè)試圖案卡的一側(cè)以為所述檢測(cè)裝置提供光照,所述測(cè)試圖案卡包括多個(gè)用于測(cè)試不同圖像質(zhì)量的測(cè)試模塊;鏡頭模組,所述鏡頭模組具有鏡頭陣列,所述鏡頭陣列包括多個(gè)光學(xué)鏡頭,所述鏡頭陣列用于捕捉多個(gè)所述測(cè)試模塊的圖案以用于圖像檢測(cè)。根據(jù)本實(shí)用新型的圖像解析力測(cè)試裝置,能夠減少測(cè)試工站,簡(jiǎn)化測(cè)試過(guò)程,提高測(cè)試效率。??