一種多功能可編程信號發(fā)生參數(shù)測試系統(tǒng)

基本信息

申請?zhí)?/td> CN201410117459.X 申請日 -
公開（公告）號 CN103941119A 公開（公告）日 2014-07-23
申請公布號 CN103941119A 申請公布日 2014-07-23
分類號 G01R31/00(2006.01)I 分類 測量；測試;
發(fā)明人 陳志輝;周向前;江安全 申請（專利權）人 百及納米科技（上海）有限公司
代理機構(gòu) 廣州市一新專利商標事務所有限公司 代理人 北京匯德信科技有限公司;常州西蘭格科技有限公司
地址 100083 北京市海淀區(qū)學院路30號天工大廈B座1408室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 一種多功能可編程信號發(fā)生參數(shù)測試系統(tǒng)，在同一個片上系統(tǒng)基片上或同一塊系統(tǒng)級封裝的電路基片上設置有中央處理器、存儲器、時鐘發(fā)生器及可編程控制信號發(fā)生源系統(tǒng)、數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)、數(shù)字信號處理器和功能電路實時選控模塊。可編程控制信號發(fā)生源系統(tǒng)，生成設定的波形電壓激勵信號，功能電路實時選控模塊控制其內(nèi)的信號發(fā)生器模塊輸出激勵外接被測物體的測試信號；數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)采集外接被測物體的應激反應模擬電信號并轉(zhuǎn)換為應激反應數(shù)字信號；數(shù)字信號處理器實時快速處理數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)產(chǎn)生的應激反應數(shù)字信號。本發(fā)明增強了測試系統(tǒng)在高頻高速測試條件的可靠性，提高抗電磁干擾效果，實現(xiàn)多功能高度協(xié)同測試測量，降低成本及占地空間。