一種單層膜雙納米孔DNA檢測設(shè)備及檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202110466792.1 申請日 -
公開（公告）號 CN113176317A 公開（公告）日 2021-07-27
申請公布號 CN113176317A 申請公布日 2021-07-27
分類號 G01N27/327 分類 測量；測試;
發(fā)明人 胡嵐;曹銘;凌新生 申請（專利權(quán)）人 蘇州羅島納米科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京集佳知識產(chǎn)權(quán)代理有限公司 代理人 王雨
地址 215000 江蘇省蘇州市蘇州工業(yè)園區(qū)若水路398號中科院納米所D棟918室
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明公開了一種單層膜雙納米孔DNA檢測設(shè)備，包括DNA修飾腔、DNA檢測腔、電場電極及信號處理終端；所述DNA修飾腔，用于在待測DNA所述待測DNA的尾端連接磁性小球；所述電場電極，用于在所述DNA檢測腔內(nèi)生成外加電場，使加裝所述探針及所述磁性小球的待測DNA的首端從所述單層膜雙納米芯片的正面先穿過所述納米孔A到達(dá)所述單層膜雙納米芯片的背面，再從所述背面穿過納米孔B，且在完成單次所述DNA過孔檢測后，關(guān)閉所述電場電極，使所述待測DNA回縮。本發(fā)明同時獲得兩次DNA檢測結(jié)果，提升檢測結(jié)果的準(zhǔn)確性，且節(jié)省了檢測時間，提高了檢測效率。本發(fā)明還提供了具有由上述優(yōu)點(diǎn)的單層膜雙納米孔DNA檢測方法。