一種單變量原子違背缺陷的檢測方法

基本信息

申請?zhí)?/td> CN202011591752.1 申請日 -
公開（公告）號 CN112631925A 公開（公告）日 2021-04-09
申請公布號 CN112631925A 申請公布日 2021-04-09
分類號 G06F11/36 分類 計算；推算；計數(shù);
發(fā)明人 李超;陳睿;王博詳;于婷婷;高棟棟 申請（專利權(quán)）人 北京軒宇信息技術(shù)有限公司
代理機(jī)構(gòu) 中國航天科技專利中心 代理人 李明澤
地址 100190 北京市海淀區(qū)科學(xué)院南路2號融科資訊中心C座南樓1101-1102
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本申請公開了一種單變量原子違背缺陷的檢測方法，該方法包括：將預(yù)設(shè)中斷驅(qū)動型軟件的源代碼轉(zhuǎn)換為中間表示形式LLVMIR，根據(jù)中間表示形式構(gòu)建程序依賴圖；根據(jù)程序依賴圖以及預(yù)設(shè)IFDS框架構(gòu)建得到爆炸超圖，根據(jù)爆炸超圖對主程序數(shù)據(jù)流分析確定每個全局變量串行可達(dá)的兩次訪問序，并對兩次訪問序的可行性進(jìn)行分析得到第一分析結(jié)果；根據(jù)第一分析結(jié)果確定出至少一個共享全局變量，以及確定出每個共享全局變量對應(yīng)的三次訪問序，對三次訪問序的可行性進(jìn)行分析得到第二分析結(jié)果，根據(jù)第二分析結(jié)果確定原子違背缺陷并生成缺陷報告。本申請解決了現(xiàn)有技術(shù)中單變量原子性違背缺陷檢測的準(zhǔn)確性和效率較低的技術(shù)問題。