一種適用于指針的單元測試用例生成方法及裝置
基本信息
申請?zhí)?/td> | CN202110043899.5 | 申請日 | - |
公開(公告)號 | CN112783765A | 公開(公告)日 | 2021-05-11 |
申請公布號 | CN112783765A | 申請公布日 | 2021-05-11 |
分類號 | G06F11/36 | 分類 | 計算;推算;計數(shù); |
發(fā)明人 | 陳睿;楊帆;江云松;于婷婷;劉亞威;王浩;高棟棟;李超;賈春鵬;吳瑾 | 申請(專利權)人 | 北京軒宇信息技術有限公司 |
代理機構 | 中國航天科技專利中心 | 代理人 | 李明澤 |
地址 | 100190 北京市海淀區(qū)科學院南路2號融科資訊中心C座南樓1101-1102 | ||
法律狀態(tài) | - |
摘要
摘要 | 本申請公開了一種適用于指針的單元測試用例生成方法及裝置,該方法包括:對預設被測程序進行靜態(tài)分析確定輸入元素中的成員類型,根據(jù)成員類型判斷輸入元素是否為void*或含void*成員的結構體;若是void*或含void*成員的結構體,則確定void*或void*成員指向的實際類型以及根據(jù)實際類型生成輸入驅動文件;判斷實際類型是否為結構體類型且結構體類型中的結構體是否包含指向動態(tài)堆數(shù)據(jù)結構的成員;若是結構體類型且結構體類型中的結構體包含指向動態(tài)堆數(shù)據(jù)結構的成員,則設置指針或結構體展開層次,并根據(jù)展開層次生成配置文件,根據(jù)驅動文件以及配置文件自動生成測試用例。本申請解決了現(xiàn)有技術中生成的測試用例覆蓋率較低、執(zhí)行崩潰或內存開銷過大的技術問題。 |
