一種衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)深層充電監(jiān)測(cè)方法

基本信息

申請(qǐng)?zhí)?/td> CN202010321283.5 申請(qǐng)日 -
公開（公告）號(hào) CN111505454A 公開（公告）日 2020-08-07
申請(qǐng)公布號(hào) CN111505454A 申請(qǐng)公布日 2020-08-07
分類號(hào) G01R31/12;G01R19/00 分類 -
發(fā)明人 薛炳森;李黎;魯禮文;田曼;白玉;李禹;周率 申請(qǐng)（專利權(quán)）人 北京天譯科技有限公司
代理機(jī)構(gòu) 北京漢之知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所（普通合伙） 代理人 國(guó)家衛(wèi)星氣象中心（國(guó)家空間天氣監(jiān)測(cè)預(yù)警中心）;北京天譯科技有限公司
地址 100081 北京市海淀區(qū)中關(guān)村南大街46號(hào)國(guó)家衛(wèi)星氣象中心
法律狀態(tài) -

摘要

摘要 本發(fā)明提供一種衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)深層充電監(jiān)測(cè)方法，該方法包括如下步驟：對(duì)入射至衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)的高能電子進(jìn)行能譜劃分，獲得每個(gè)能道的高能電子的能量Ei；計(jì)算每個(gè)能道穿過衛(wèi)星防護(hù)層的電子通量透過率rat；得到每個(gè)能道入射至所述衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)表面的電子通量Fi，進(jìn)而得到入射至所述衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)表面的總的電子通量F；根據(jù)總的電子通量F計(jì)算所述衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)的深層充電電壓U，U＝S×F×Qe×R；其中，S為深層充電介質(zhì)的探測(cè)面積，R為深層充電介質(zhì)的電阻Qe為單個(gè)電子的電荷。根據(jù)深層充電電壓可以有針對(duì)性地對(duì)衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)的材料進(jìn)行篩選或者優(yōu)化屏蔽措施，由此進(jìn)一步優(yōu)化單機(jī)運(yùn)行。本發(fā)明的方法還可以實(shí)現(xiàn)對(duì)衛(wèi)星內(nèi)部介質(zhì)的充電電壓的連續(xù)監(jiān)測(cè)，具有很強(qiáng)的實(shí)用性。